電子逸出功：一個艱難的離別

在實踐中，即使是一個工程師，而抽象的物理概念是非常重要的。 例如，金屬的電子功函數 - 為對顯影劑的電子系統的標準值。 當然，專家，也需要更深入的了解，這取決於與工作的材料。 該值不僅金屬，但任何固體，包括半導體。 如果我們考慮一對通常用於安德森兩個半導體的。 但是，如果所述材料接合到金屬，它是有用通常肖特基莫特。 但是，計算將是不準確的，並在此的主體作用發揮的穩定 的能級 的費米。

定義

在固體物理，功函數 - 從固體拉一個電子所需和該最小熱力學效應（它也是能量）被放置在其表面的一個點。 真空 - 所有通用的計算是身體周圍的假設下進行。 它位於足夠遠到原子規模大小，但足夠接近是電場在真空的影響下。 功函數 - 這不是所述材料組合物的特性，而是在其表面的質量。 它與晶面的特殊性和污染的程度相連接。

理論公式

功函數是數值上等於兩種能量的總和。 首先，所需的量以從原子系統中除去一個電子。 其次，能量的期望放置在原子中電子的量是在固體的表面上。

注意！

一些 物理現象 是指標“功函數”的數值非常敏感。 即式中，如上所述，是用於簡化的理論模型，而不是更多的結構。 在實驗中，該參數的值可以是從沒有經驗獲得的公式計算完全不同。 如果表面不光滑，不均勻的，即自身的精確值的計算，以獲得經驗數據，變得幾乎不可能。

測量方法組

電子逸出功是由幾種方法和完全不同的物理現象的基礎上計算。 總分辨兩組實驗方法之間。 使用從樣品的電子發射絕對的，引起光電發射，高溫隧穿場或釋放電子。 相對方法適用測試樣品和所述參考電極之間的接觸電勢差。

這是很難預測精度高功函數的幅度不進行試點研究。 但也有一定的趨勢，科學家們發現了這種現象的歲月。 幾乎總是小於以開放的金屬值格。 對於晶體的笨面比用於刺激更高。 解釋這些現象是相當明顯的。 在一個開放的晶格電子較弱，並且在該原子上的外部影響的銳角變得更容易。